その場X線回折（in situ XRD）に関するおすすめ記事 | fabcross for エンジニア

タグ：その場X線回折（in situ XRD）

• 
  • 2023-12-18
  • 技術ニュース, 電気・電子系
  • Energy Storage Materials, NIMS, その場X線回折（in situ XRD）, その場発生ガス分析法（on-line MS）, ソフトバンク, リチウム過剰系電極材料, 物質・材料研究機構, 研究, 透過型電子顕微鏡（TEM）, 電圧ヒステリシス, 高エネルギー密度蓄電池用電極材料

  次世代リチウムイオン電池正極材料の放電電圧低下の原因を解明　NIMSとソフトバンク

  国立研究開発法人物質・材料研究機構（NIMS）とソフトバンクの研究チームは2023年12月15日、高エネルギー密度蓄電池用電極材料で起こる放電電圧が充電電圧よりも著しく低くなる現象（電圧ヒステリシス）の原因を解明したと発…

  詳細を見る

  • Tweet
  -
  •