低コスト・短期間で導入可能なAI検査システムを開発――ディープラーニングの推論機能を実装　東京エレクトロンデバイス

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デモシステムのイメージ

東京エレクトロンデバイスは2019年4月9日、不良品の流出を防ぎ過検出を低減するAI検査システム「TED AIプラットフォーム」を開発したと発表した。

TED AIプラットフォームでは、AI技術を活用して画像判定を行うディープラーニングの推論機能を実装した産業用PCを、IoT Edgeコンピューティングのアプライアンス（ベースキット）として使用する。学習環境はオンプレミス単体運用のほか、Microsoft Azureといったパブリッククラウドとの連携もサポートされる。

また、ディープラーニングを用いた識別技術により、検査対象物の特徴で判別が行えるため、個体差がある対象物の判別や、位置のバラつきへの対応、官能検査など、様々な用途での利用が可能だ。複数の検査対象物を個別に推論処理する同社独自技術により、複数の製品が同時に流れてくるラインでの活用も可能で、検査効率向上が見込める。また、推論処理の高速化にインテルのディープラーニングのツールキット「OpenVINO」を用いることで、AI検査システムを低コスト、短期間で実装できる。

複数の対象物の検査イメージ

東京エレクトロンデバイスは、目視検査からの置き換えや、自動検査装置と併用してダブルチェックや過検知対策としての需要を見込む。そして今後も、顧客の用途に柔軟に対応するセミカスタムのAI検査ソリューションの提供に向けた開発を継続するという。

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