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タグ：透過電子顕微

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  • 2023-2-2
  • 化学・素材系, 機械系, 製品ニュース
  • FIB, FIB-SEMシステム, JIB-PS500i, SEM, SEM center, STEM, TEM, 日本電子, 試料作製, 走査電子顕微鏡, 透過電子顕微, 集束イオンビーム加工装置

  高精度／高分解のFIB-SEMシステムを販売――TEM試料作製からSTEM観察までシームレスに実行　日本電子

  日本電子は2023年2月1日、FIB-SEMシステム「JIB-PS500i」の販売を開始した。高精度で加工できる集束イオンビーム加工装置(FIB)と高分解能を有する走査電子顕微鏡(SEM)の複合システムで、高精度且つより…

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