タグ：非破壊検査
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GaN半導体の結晶欠陥を非破壊で識別する技術を開発――多光子励起フォトルミネッセンス法を用い貫通転移を観察 大阪大学
大阪大学は2021年4月28日、同大学院工学研究科の研究グループが、多光子励起フォトルミネッセンス法を用いて窒化ガリウム（GaN）半導体の貫通転位という欠陥を観察し識別する技術を開発したと発表した。半導体を一切加工せずに…詳細を見る -
東北大、プラスチックの劣化・健全度診断をテラヘルツ波による非接触診断技術で実現
東北大学は2017年9月27日、同大学の小山裕教授らの研究グループが、テラヘルツ波を用いてプラスチックの機械的歪みや劣化を非破壊・非接触で診断できる技術を開発したと発表した。 テラヘルツ波は電波と光の性質をあわせ持…詳細を見る
