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タグ：不良検知

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  • 2021-4-30
  • 機械系, 製品ニュース
  • AI, 不良検知, 外観検査, 教師なし学習, 東芝, 深層学習, 特徴量, 画像分類AI

  教師なしで高精度に複雑な画像をグループ化する画像分類AIを開発――外観検査での不良検知の分析時間短縮に貢献　東芝

  東芝は2021年4月28日、製造現場での外観検査による不良検知向けに、教師なし（分類基準のラベルづけ作業なし）で高精度に画像をグループ化する画像分類AIを開発したと発表した。独自の深層学習技術により、世界トップレベルの分…

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