陽電子寿命測定に関するおすすめ記事 | fabcross for エンジニア

タグ：陽電子寿命測定

• 
  • 2019-5-9
  • ニュース, 制御・IT系, 技術ニュース, 電気・電子系
  • オフライン解析コード, サブナノ空間, テクノエーピー, 機能性薄膜材料, 産業技術総合研究所, 産総研, 研究, 陽電子, 陽電子ビーム, 陽電子寿命測定, 高速デジタル計測技術

  分子のすき間の大きさを精密に測定できる高速デジタル計測システムを開発――機能性材料の性能向上に期待　産総研とテクノエーピー

  産業技術総合研究所（産総研）は2019年5月8日、テクノエーピーと共同で、陽電子で薄膜中の分子のすき間を測る実用レベルの高速デジタル計測技術を開発したと発表した。 機能性薄膜材料において、分子の通り道となるナノメー…

  詳細を見る

  • Tweet
  -
  •