透過型電子顕微鏡法（TEM）に関するおすすめ記事 | fabcross for エンジニア

タグ：透過型電子顕微鏡法（TEM）

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  • 2019-5-22
  • ニュース, 化学・素材系, 技術ニュース
  • 偏析, 東京大学, 研究, 第一原理計算, 結晶粒界, 透過型電子顕微鏡法（TEM）

  材料の破壊メカニズムを原子レベルで解明――TEMナノインデンテーション法により進展する亀裂をリアルタイムで可視化　東京大学

  東京大学は2019年5月21日、透過型電子顕微鏡法（TEM）を用いたナノスケールの応力印加その場観察により、多結晶において偏析粒界を進展する亀裂をリアルタイムで可視化することに初めて成功したと発表した。この結果、従来の考…

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