電子線後方散乱回折法に関するおすすめ記事 | fabcross for エンジニア

タグ：電子線後方散乱回折法

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  • 2022-7-6
  • 化学・素材系, 技術ニュース, 海外ニュース
  • MIT, Nature Materials, ナノスケール再結晶粒, ナノスケール結晶粒, レーザー誘起粒子射出法, 学術, 物理解析機器, 結晶粒微細化メカニズム, 走査型透過電子顕微鏡, 電子線後方散乱回折法, 電子顕微鏡

  金属を10倍強化できる可能性も――MIT、超高速加工による結晶粒微細化メカニズムを解明

  MITの研究チームが、金属材料を超高速で加工変形させたときに起こるナノスケールの結晶粒微細化メカニズムを、先端的の物理解析機器および電子顕微鏡を用いて明らかにすることに成功した。レーザー誘起粒子射出法により、10μmの銅…

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