X線トポグラフィ観察法に関するおすすめ記事 | fabcross for エンジニア

タグ：X線トポグラフィ観察法

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  • 2018-7-10
  • ニュース, 化学・素材系, 技術ニュース
  • GaN結晶, JFCC, KEK, X線トポグラフィ観察法, ファインセラミックスセンター, 窒化ガリウム, 高エネルギー加速器研究機構

  KEKとJFCC、GaN結晶の欠陥を短時間かつ非破壊で検出する方法を確立――青色LEDなどの高品質化を加速

  高エネルギー加速器研究機構（KEK）は2018年7月9日、ファインセラミックスセンター（JFCC）と共同で、窒化ガリウム（GaN）結晶中のさまざまな欠陥をごく短い時間で非破壊で検出する方法を確立したと発表した。 G…

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