- 2016-7-5
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- DPO／DPS70000SXシリーズ, DPO７００００SXシリーズ・ハイ・パフォーマンス・オシロスコープ, PCI Express, PCIe, テクトロニクス
テクトロニクスは2016年7月4日、PCI Express（PCIe）ベース仕様のトランスミッタやレシーバを自動でテストするためのソリューションを発表した。
PCIe4.0のデータ・レートが高速になるにつれ、チャンネル損失の増加、厳しくなるトータル・ジッタ・バジェット、より複雑になるリンク・トレーニング、タイミング要件など、新しいテスト問題が発生している。一方、設計マージンの減少に伴い、デバッグ、設計検証、インターオペラビリティ（相互運用性）テストでは、正確で規格特有の測定ソリューションが必要となっている。
今回発表されたPCIe4.0および3.0用テスト・ソリューションは、16GT／sデータレートのサポートを含んでいる。そのため、DPO70000SXシリーズ・ハイ・パフォーマンス・オシロスコープと組み合せれば、上述の要求に対応できるとしている。
テクトロニクスが提供するDPO／DPS70000SXシリーズとDPO／MSO70000DXシリーズ・ハイ・パフォーマンス・オシロスコープのOpt.PCE4は、PCIe4.0ベース仕様のトランスミッタ（Tx）を測定できる。PCI Express 3.0用ソリューションのOpt.PCE3も、同じ機能を発揮するという。
また、今回のソリューションでは、PCIe 4.0やPCIe 3.1aベース仕様のレシーバ・テストをサポート。BERTScopeビット・エラー・レート・テスタとハイ・パフォーマンス・リアルタイム・オシロスコープの自動化により、ストレス・アイの開口を校正し、Rxの適合性とジッタ・トレランスをテストできる。さらに、シンプルなユーザーインタフェイスで複雑なPCIeテストを自動化し、計測器の校正時間を大幅に短縮。ユーザ定義のレンジを使用したタイミング／電圧パラメータのループ・スルーをサポートしているため、二次元のプロット作成が可能だという。
テクトロニクス、パフォーマンス・オシロスコープ、ジェネラル・マネージャのBrian Reichは「PCIeなどの重要な業界仕様の進化に伴い、テクトロニクスのテスト／計測ツールも同時に進化しなければなりません。DPO70000SXシリーズ・オシロスコープと、PCIeソリューションの強化により、優れた測定確度とスケーラビリティが得られるため、最新のPCIe仕様に対するデバッグとコンプライアンス検証が可能になり、コンプライアンス・テストに要する時間を大幅に短縮し、作業生産性が向上します」と、今回のソリューションの魅力を説明している。
