タグ：走査電子顕微鏡
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高精度／高分解のFIB-SEMシステムを販売――TEM試料作製からSTEM観察までシームレスに実行 日本電子
日本電子は2023年2月1日、FIB-SEMシステム「JIB-PS500i」の販売を開始した。高精度で加工できる集束イオンビーム加工装置(FIB)と高分解能を有する走査電子顕微鏡(SEM)の複合システムで、高精度且つより…詳細を見る-
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真黒な蝶がヒント――薄くて軽量の黒色塗膜材料の設計手法
デューク大学の研究チームが、黒色の蝶の翅（はね）を、走査電子顕微鏡とコンピューターシミュレーションを用いて解析し、リッジと孔を含むメッシュ状の表面を持った鱗片の構造により、光が吸収されて真黒に見えることを確認した。アゲハ…詳細を見る-
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