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タグ：高品質ダイヤモンド薄膜成長技術

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  • 2025-1-10
  • 化学・素材系, 技術ニュース
  • AFM, ダイヤモンド, ダイヤモンド薄膜, プラズマCVD, 原子スケール, 原子間力顕微鏡, 東京大学, 炭素原子, 産業技術総合研究所, 産総研, 研究, 第一原理計算, 高品質ダイヤモンド薄膜成長技術

  ダイヤモンド表面を原子レベルで観察する技術を開発　東大、産総研

  東京大学の研究グループは2025年1月8日、産業技術総合研究所（産総研）と共同で、ダイヤモンド表面を原子レベルで観察する技術を開発したと発表した。原子間力顕微鏡（AFM）を用い、世界で初めてダイヤモンド表面の個々の炭素原…

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