東大先端オペランド計測技術オープンイノベーションラボラトリに関するおすすめ記事 | fabcross for エンジニア

タグ：東大先端オペランド計測技術オープンイノベーションラボラトリ

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  • 2019-11-6
  • ニュース, 技術ニュース, 電気・電子系
  • ウエハー, トランジスタ, パイクリスタル, フォトリソグラフィー, マテリアルイノベーション研究センター, 国際ナノアーキテクトニクス研究拠点, 東京大学, 東大先端オペランド計測技術オープンイノベーションラボラトリ, 物質・材料研究機構, 産総研, 研究, 連続エッジキャスト法

  厚さ10nmの極薄有機半導体結晶膜ウェハーを簡便な印刷法により作製――実用レベルの均一性と信頼性を達成　東京大学

  東京大学大学院新領域創成科学研究科は2019年11月5日、簡便な印刷法を用いて、厚さ10nmの極薄有機半導体単結晶膜ウエハーを作製したと発表した。今回の成果により、安価に大量生産可能なIoTデバイスの開発が期待されるとい…

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